מערכת גלאית למדידות מדויקות ובחינה ברזולוציה גבוה של מבנים עם יחס אספקט גבוה המנצל התקנים עם אלומת חלקיקים - פטנט 111384 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 111384
שם האמצאה:: מערכת גלאית למדידות מדויקות ובחינה ברזולוציה גבוה של מבנים עם יחס אספקט גבוה המנצל התקנים עם אלומת חלקיקים
שם באנגלית:: detection system for precision measurements and high resolution inspection of high aspect ratio structures using particle beam devices

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
26/10/1993	דין קדימה	141669	ארה"ב (US)
14/10/1994	בקשה לאומית	111384	ישראל (IL)
15/07/1998	פרסום לאומי	111384	ישראל (IL)

מגיש

שם:: METROLOGIX, INC.
כתובת:: 3255-2 SCOTT BOULEVARD, SULTE 104 SANTA CLARA, CALIFORNIA , US
מדינה:: ארה"ב

מסירת הודעות

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

סוכן

שם:: סנפורד ט. קולב ושות'
כתובת:: שער הגיא 4, מרמורק, רחובות 76122
מדינה:: ישראל
טלפון:: 08-9455122
פקס:: 08-9454556
דוא"ל:: colbpat@stc.co.il

סוכן

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

מסמכים

פטנטים דומים