מערכת כיול אחידות תצוגה ושיטה לחיישן אינפרה–אדום המביט באופן חודר קדימה - פטנט 161180 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 161180
שם האמצאה:: מערכת כיול אחידות תצוגה ושיטה לחיישן אינפרה–אדום המביט באופן חודר קדימה
שם באנגלית:: DISPLAY UNFORMITY CALIBRATION SYSTEM AND METHOD FOR A STARING FORWARD LOOKING INFRARED SENSOR

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2003/084213	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
27/03/2002	דין קדימה	108710	ארה"ב (US)
26/03/2003	בקשה בינלאומית	PCT/US/2003/009016	ארה"ב (US)
30/03/2004	בקשת PCT	161180	ישראל (IL)
20/07/2009	פרסום לאומי	161180	ישראל (IL)

מגיש

שם:: RAYTHEON COMPANY
כתובת:: 2000 EAST EL SEGUNDO BOULEVARD P.O.BOX 902 EL SEGUNDO, CALIFORNIA 90245-0902 , US
מדינה:: ארה"ב

מסירת הודעות

שם:: סנפורד ט. קולב ושות'
כתובת:: שער הגיא 4, מרמורק, רחובות 76122
מדינה:: ישראל
טלפון:: 08-9455122
פקס:: 08-9454556
דוא"ל:: colbpat@stc.co.il

סוכן

שם:: סנפורד ט. קולב ושות'
כתובת:: שער הגיא 4, מרמורק, רחובות 76122
מדינה:: ישראל
טלפון:: 08-9455122
פקס:: 08-9454556
דוא"ל:: colbpat@stc.co.il

מסמכים

פטנטים דומים